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材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。

相邻元素的Kα谱线完全分开, 结构上没有分光系统, Si-PIN半导体传感器安装位置邻近样品, 检测灵敏度高, 所以XRF光谱ROHS分析仪Compassionately00成为了RoHS重金属检测的仪器。

由于Ro HS检测涉及成千上万种产品, 基体材料种类繁杂, 有单一材质, 也有金属合金、复合镀层、陶瓷玻璃以及PE、PVC、ABS等塑料类, 目前国内外在检测方法方面没有形成一致性的结论, 因此可以采用一种或几种分析仪器对其中的有害物质进行测试。其中能量色散X射线荧光光谱仪可直接使用固体标准物质进行校准。

以上信息由专业从事CS995型红外碳硫分析仪的英飞思科学于2024/12/8 7:07:11发布

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